INFORMAZIONI TECNICHE
TEM JEOL 2010, operante a 200 kV, con risoluzione di 1.9 Å, pezzi polari UHR, sorgente LaB6; il microscopio è dotato di sistema di microanalisi X a dispersione di energia EDS Oxford ISIS e di sistema semiSTEM.
E' possibile registrare immagini e diffrazioni elettroniche sia su lastre fotografiche che su imaging plate.
PRINCIPALI TEMATICHE AFFRONTATE
Difettualità e reazioni nel minerali alla nanoscala.
Studio di minerali argillosi.
Studio dei minerali del serpentino.
Analisi di particolato atmosferico.
Analisi di nanomateriali.
referente scientifico
Ricercatori coinvolti
personale tecnico
- Magrini Claudia
gruppi di ricerca di riferimento
